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在發展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢,覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術,例如真空分隔技術,通過電子槍與樣品倉的真空分離設計,顯著縮短換樣時間,同時支持高真空與低真空模式。
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查看更多ZEM系列電鏡能譜一體機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能,體積小巧,操作簡便,安裝無需特殊環境,只需找一張桌子,供電即可工作。
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