澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創(chuàng)新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創(chuàng)新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

ZEM系列電鏡能譜一體機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。

桌面型掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源，三級獨立真空設計，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創(chuàng)新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。

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