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透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過(guò)更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對(duì)于真空度要求的限制,在一個(gè)*封閉的氣體系統(tǒng)中,研究透射電鏡內(nèi)的氣相反應(yīng)過(guò)程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應(yīng)情況。并結(jié)合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動(dòng)態(tài)的,實(shí)時(shí)的觀察原子級(jí)別的固氣反應(yīng)。同時(shí),該樣品桿可以真正在透射電鏡中進(jìn)行密閉腔室的EDS元素分析。可用氣體種類:氫氣、氮?dú)狻⒀鯕狻鍤狻睔獾榷?/p> 查看更多
臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)是集成化成像分析系統(tǒng)。使用它既可以觀察樣品的形貌,同時(shí)又能進(jìn)行元素的定性和定量分析。除了元素的點(diǎn)分析,元素的線面掃功能可以進(jìn)一步分析元素的分布情況。不同價(jià)位的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)略有不同,主要是以下三個(gè)方面的質(zhì)量差異。1、電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。2、鏡筒主要有電子源、電子透鏡、樣品架、熒光屏、檢測(cè)器等部件。這些部件通常從上到下組裝成一個(gè)圓柱體。3、電子透鏡用于聚焦電子,是電子顯微鏡鏡筒中很重要的部分。一般使用磁透鏡,有時(shí)也使用靜電...
了解更多拿到新機(jī)不知道要怎么操作?下面為您詳細(xì)的講解操作步驟。一、使用臺(tái)式掃描電鏡拍攝低倍圖像方法1、啟動(dòng)并放入樣品,將真空抽至0.01并保持至開槍按鈕常亮后,然后點(diǎn)擊開槍按鈕。2、按照需要設(shè)定電壓值。并將"光斑直徑"調(diào)整至"粗"或者"中",勾選"自適應(yīng)"按鈕,調(diào)整"亮度""對(duì)比度",至出現(xiàn)較為明亮的圖像。后粗調(diào)"聚焦"條,至顯示較為清晰的圖像,然后將樣品臺(tái)移動(dòng)到想要拍照的樣品上。3、低倍數(shù)下有了較為清晰圖像后。將倍數(shù)放大至大于要拍攝倍數(shù)后(比如要拍攝1000倍,放大至5000或10...
了解更多sem掃描電鏡噴金是一種動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)研究中發(fā)揮了重要作用。在掃描電鏡上進(jìn)行材料試驗(yàn),可以充分利用掃描電鏡的強(qiáng)大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行動(dòng)態(tài)研究。微型拉伸臺(tái)可以為很多材料做拉伸測(cè)試,如金屬材料,高分子材料,陶瓷材料等。通過(guò)掃描電鏡對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)變化進(jìn)行原位成像,從而深入理解形態(tài)變化的原因并對(duì)變化時(shí)刻進(jìn)行成像。結(jié)合對(duì)動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)的信息可以克服對(duì)傳統(tǒng)的應(yīng)力/應(yīng)變數(shù)據(jù)解釋的不確定因素。sem掃描電鏡噴金...
了解更多臺(tái)式掃描電鏡的基本操作包括調(diào)整焦距和巧妙地消除像散,想要使用掃描電鏡照射出清晰的圖像,就需要熟悉sem掃描電鏡的各種基本操作及基本要求。臺(tái)式掃描電鏡基本操作包括調(diào)整焦距和巧妙地消除像散。對(duì)焦比較容易,改變焦距直到圖像清晰。當(dāng)離焦量較大時(shí),可采用較高的靈敏度,并可在焦點(diǎn)附近降低靈敏度,以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確對(duì)焦。散光和聚焦是掃描電子顯微鏡操作的基本要求。在分散的基本操作中比較麻煩,特別是當(dāng)分散性很大時(shí),對(duì)許多初學(xué)者來(lái)說(shuō)比較難以調(diào)整。然而,如前所述,在生成這樣的散射,電子束不再是圓形的,所以...
了解更多透射電鏡每做好一個(gè)樣品,首先要安置在樣品時(shí)候不會(huì)損害透射電鏡的光學(xué)性質(zhì)或者讓氣體桿上,然后插入透射電鏡樣品臺(tái)才能進(jìn)行抽真進(jìn)入透射電鏡的真空區(qū)域。透射電鏡樣品桿是利用高能電子束充當(dāng)照明光源而進(jìn)行放大成像的大型顯微分析設(shè)備,利用透射電鏡電學(xué)測(cè)試樣品桿與掃描電鏡相結(jié)合,成功搭建出在掃描電鏡和透射電鏡中通用的原位電學(xué)性能測(cè)試裝置。透射電鏡樣品桿的使用方法:1、觀察透射電鏡狀態(tài),看設(shè)備是否正常運(yùn)行,觀察真空值,看是否在合理范圍內(nèi)。2、更換樣品。將制備好的透射電鏡樣品放入樣品桿前端樣品槽...
了解更多經(jīng)歷過(guò)長(zhǎng)達(dá)幾十年迭代更新,才有如今的掃描電鏡,下面就為您簡(jiǎn)單介紹電子顯微鏡的發(fā)展史。電鏡的發(fā)展歷史要從1924年波粒二相性理論的提出開始介紹。1924年法國(guó)物理學(xué)家德布羅意提出“物質(zhì)波”假說(shuō),認(rèn)為和光一樣,一切物質(zhì)都具有波粒二象性。根據(jù)這一假說(shuō),電子也會(huì)具有干涉和衍射等波動(dòng)現(xiàn)象,這被后來(lái)的電子衍射試驗(yàn)所證實(shí)。由此,物理學(xué)界也開始了拉開了利用電子成像的帷幕。1926年:磁透鏡聚焦理論的提出德國(guó)學(xué)者H.Busch提出了運(yùn)動(dòng)電子在磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)理論。他指出:具有軸對(duì)稱的磁場(chǎng)對(duì)電子束具...
了解更多ZEM15臺(tái)式掃描電鏡速度快,信號(hào)采集帶寬10M,可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)地顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作,不需對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖,主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng),體積小巧,便于移動(dòng),安裝無(wú)需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,操作簡(jiǎn)單快捷,維護(hù)方便,在硅藻鑒定、纖維鑒定、火災(zāi)后物證鑒定中發(fā)揮重要作用。ZEM15臺(tái)式掃描電鏡在司法鑒定行業(yè)發(fā)揮著不可忽略的作用,它具有檢測(cè)快速簡(jiǎn)便,取材少,無(wú)損檢測(cè),放大倍數(shù)高等一系列優(yōu)點(diǎn),成為刑事技術(shù)檢測(cè)的重要工具。1、在火災(zāi)后物證鑒...
了解更多sem掃描電鏡被已經(jīng)廣泛的應(yīng)用在各行各業(yè)了。因?yàn)槭褂梅秶軓V,所以有很多用戶在購(gòu)買時(shí)不知道該如何選擇,對(duì)于初次購(gòu)買sem掃描電鏡的人來(lái)說(shuō)會(huì)有很多困難,下面從三個(gè)方面的購(gòu)買因素入手,教您合理的選擇的它。購(gòu)買因素一:了解sem掃描電鏡市場(chǎng)買家在采購(gòu)掃描電鏡時(shí)一定要先了解這種設(shè)備的市場(chǎng),因?yàn)橹挥辛私馐袌?chǎng),才能更順暢地選擇sem掃描電鏡,用戶可以比較更多的不同掃描電鏡,在比較過(guò)程中也會(huì)發(fā)現(xiàn)優(yōu)缺點(diǎn)。這使得選擇更加容易。購(gòu)買因素二:根據(jù)實(shí)際需求選擇sem掃描電鏡隨著需求的增加,其品牌及種...
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