產品中心PRODUCTS CENTER
首頁 > 產品中心 > 掃描電鏡原位樣品臺 >
產品分類
掃描電鏡原位樣品臺
相關文章
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學臺是動態觀察和分析納米材料力學行為的重要工具。
SEM納米探針臺由澤攸科技研發,是一款具有高性能的科研設備,特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優點,而且能夠兼容高真空環境,是掃描電鏡(SEM)的重要原位功能附件之一。通過更換不同的探針類型,如電學探針、光纖探針、納米鑷子、顯微注射器等,可以滿足各種實驗需求,實現從納米材料操縱到生物細胞DNA操作等多種應用。
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術,溫度范圍:室溫至1200攝氏度。
PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺,基于MEMS芯片封裝及電學芯片技術,實現掃描電鏡內原位液體-電化學實驗。
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術,溫度范圍:-160℃至80℃。
關于我們
產品展示
欄目導航
聯系我們
版權所有©2025 安徽澤攸科技有限公司 Al Rights Reseved 備案號:皖ICP備17025148號-2 Sitemap.xml 管理登陸 技術支持:化工儀器網
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部