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澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產品將掃描探針控制單元巧妙集成于標準外形的透射電鏡樣品桿中，能夠在透射電鏡腔體內實現對單個納米結構的精確操縱與電學測量。通過這一系統，研究人員不僅可以實時動態地觀察樣品的晶體結構、化學組分和元素價態的變化，還可以在多種外場環境下進行多維度的原位表征。
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PicoFemto系列透射電鏡三維重構樣品桿，基于樣品端超薄設計，滿足大傾角傾轉和360度旋轉測試需求。
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PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究。
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澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術的創新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環境中進行原位測量而設計。該系列產品通過在標準外形的透射電鏡樣品桿中加裝上下兩片氣體/液體芯片，形成一個微反應腔，配合氣體/液體控制系統以及選配的加熱或電學控制模塊，能夠實現對單個納米結構在復雜環境中的實時動態觀測與測量。研究人員可以在透射電鏡中模擬高溫氣氛、液體化學反應等。
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