原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列

原位MEMS氣體/液體樣品桿系列

產品介紹

在標準外形的透射電鏡樣品桿加裝上下兩片氣體/液體芯片形成反應微腔，配合氣體/液體控制系統以及選配加熱/電學控制系統，并可對單個納米結構進行氣體/液體環境內的原位測量，該系統配備的加熱/電學模塊可使用戶在電鏡中構筑氣氛/液體環境的同時開展加熱/電學實驗。

產品特色

氣氛加熱/液體電化學測量系統：

該系統可在透射電子顯微鏡中實現高溫氣氛環境(最高1 Bar & 800 ℃)或液體光環境觀測條件，使研究者可以在微觀尺度實時觀測催化反應、氧化還原反應、低維材料生長/合成以及各類腐蝕反應，將您的透射電鏡從一臺靜態成像工具升級為一套功能強大的納米實驗室。

1.氣氛加熱指標                                                                         2.氣體流動指標

溫度范圍:室溫至800 ℃                                                             三通道混氣

控溫穩定性:優于 ± 0.1 ℃                                                          氣壓范圍:0-1 bar

可通氣體:H2,N2,O2,He,Ar,CO,CO2,CxHy等

3.MEMS反應微腔指標                                                              4.液體電化學指標

超薄氮化硅膜窗口                                                                     電壓輸出最大: ± 200 V，最小 ± 5 μV

樣品漂移:優于 0.7 nm/min                                                       電流測量最大: ± 1.5 A，最小 ± 100 fA

可選流動液體芯片、靜態液體芯片、液體光學芯片                     恒壓或者恒流模式

芯片可定制                                                                               I-V測量、I-t測量，自動保存

應用案例

銅納米顆粒在不同氫氧比和溫度條件下的結構變化和動

2V 電壓下銀離子聚合體遷

部分產品精選

原位氣氛加熱測量系統、原位液體電化學測量系統、定制原位液體/氣體測量系統、

原位液體通光測量系統、原位封閉式電化學測量系統