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      SEM掃描電鏡在觀測樣品時要滿足什么樣的條件?

      更新時間:2022-07-12    瀏覽量:1050
          SEM掃描電鏡的工作原理為:
        在高真空的鏡筒中,由電子槍產生的電子束經電子會聚透鏡聚焦成細束后,在樣品表面逐點進行掃描轟擊,產生一系列電子信息(二次電子、背反射電子、透射電子、吸收電子等),由探測器將各種電子信號接收后經電子放大器放大后輸入顯像管。

      SEM掃描電鏡

         SEM掃描電鏡在觀測樣品時要滿足什么樣的條件?

        ①形貌結構形態,要耐高真空
        SEM掃描電鏡是一種用電子束掃描物體表面的成像技術。空氣的存在會使電子束變形,影響掃描效果,所以樣品需要能夠承受高真空。

        ②樣品表面導電
        樣品表面要導電,如果導電性比較差,可以鍍金處理以提高導電性。在大多數情況下,主電子束電荷大于背散射電子和二次電子的數量,因此要將多余的電子導走,使樣品表面沒有電荷積累。

        ③特殊樣品制備的注意事項
        一般來說,不建議在該掃描電鏡下觀察磁性材料。如果要觀察這種材料,建議先消磁。

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